功能描述

PSEN 工作流程：

1. 在软件中配置测试参数 (RO_SEL, CNT_TIME) 后，打开测试 (PSEN_EN=1)。
2. 打开测试后，PSEN 触发数字电路打开 RO_EN，模拟电路 RO 开始振荡工作，并产生一个经过 16 分频的低频时钟信号供数字电路计数使用。
3. 数字电路打开 RO_EN 后延迟打开 CNT_EN。此时 CNT 开始计数，直到预设的 CNT_TIME 时间结束，系统会自动关闭 CNT_EN 并延时关闭 RO_EN，最后将 PSEN_EN 清零表示测试完成。
4. 软件检测到 PSEN_EN 清零后，读取 CNT_VAL 值，作为当前 PSEN 的速度。
5. 重复此测试可以获取更多 RO 的数据，进一步提高制造工艺的精度和效率。

对于芯片内部合封了 FLASH 的使用场景，可使用 FLASH_CFG 子模块对合封的 FLASH 进行烧写和读写访问。FLASH_CFG 子模块包含 SRCSEL 和 PINMAP 两个模块，如FLASH_CFG 框图所示。

• SRCSEL 用于选择以下几类控制来源：

  • SPI0
  • SPI1
  • PINMUX：主要用于进行 FLASH 裸片烧录。
• PINMAP 用于对引脚进行映射，兼容各种 DIE 的 PIN 顺序，方便封装设计打线连接。PINMAP 分为两组，每组三个引脚：
  • PINMAP_012: WP MISO CS → PIN0 PIN1 PIN2
  • PINMAP_345: HOLD SCLK MOSI → PIN3 PIN4 PIN5