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工作模式描述

15 Aug 2024
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RTP 模块规定了两类工作模式：

  • 手动工作模式：采样模式由软件通过控制寄存器配置来构造而来，不限于采样模式描述中定义的八种采样模式。

    不同采样模式的先后顺序由软件进行控制，可以获得最大的灵活度，以面对未来应用的不确定性。

  • 自动工作模式：按照预先定义的八种采样模式之一以及预定的顺序进行采样。

    最大程度简化软件驱动控制，一键完成所需的所有采样工作。软件只需使用获得的采样值进行坐标运算即可。根据不同应用需要，自动模式分了四种情况，详细参考寄存器描述。

自动模式下采样数据滤波

自动工作模式下，采样数据滤波包括以下步骤：

  1. 排序：把单点多次采样结果进行排序，找出最大和最小的值。

  2. 超限判断，用最大值-最小值，然后进行相对值和绝对值分别比较，如果超过其中任一值，则整组采样数据判为无效，否则就认为数据有效。

  3. 算数平均：把最大值/最小值排除之后，对中间值进行算数平均，得到的结果作为单点采样的最终结果存入 FIFO。

滤波配置包含：
  • 无滤波。
  • 2/4：单点采样连续采样 4 次，获得同一个点的连续的 4 个 ADC 样本数据，然后去掉最大和最小，再对剩下的数据进行算数平均。
  • 4/6：单点采样连续采样 6 次，获得同一个点的连续的 6 个 ADC 样本数据，然后去掉最大和最小，再对剩下的数据进行算数平均。
  • 4/8：单点采样连续采样 8 次，获得同一个点的连续的 8 个 ADC 样本数据，然后去掉最大 2 个和最小 2 个，再对剩下的数据进行算数平均。

示例

假设采样模式为 XP，滤波配置为 4/6，XYRUR=1/64，XYAUR=16，则对 X+进行连续采样，得到 6 个数值，分别为 A，B，C，D，E 和 F，并且 A < B < C < D < E < F，则采样数据滤波步骤如下：
  1. 排序：最小值 A，最大值 F。
  2. 超限判断：如果 ((F-A) > XYAUR) || ((F-A) > ((F+A)/2* XYRUR)) == 1（绝对值或相对值超出限制范围），则保留采样所得的数据，并立即停止自动采样。

    数据超限与抬起都会导致 RTP 进入 Error 状态并停止自动采样（仅rtp-register-d12x.html#concept_t5v_zl3_pzb__table_ezb_2dc_bzbMODE>0 有效），无需等待自动采样完成，但需要等待正在执行的单点采样完成，需软件清除采样不完整与数据超限标志。

  3. 算术平均：DATA = (B + C + D + E) ÷ 4。
注： 超限判断与算术平均同时进行。

自动模式下的采样循环描述

自动模式单循环采样说明：


自动模式单循环采样

自动模式周期循环采样说明：


自动模式周期循环采样

自动模式下的单点采样描述

自动模式下单点采样步骤如下：
  1. 检查按压检测信号。

    确保 DRV[3:0]=4’h1，并且 PDETEN 有效，检查经过去抖前的按压检测信号（PDETi）。

    如果按压有效，则进入步骤 2 ，否则置位 FLG（采样循环不完整标志），并进入步骤 6。

  2. 配置驱动 RTP 电路。

    根据采样模式，分别配置 DRV/ VPSEL/ VNSEL 驱动电路，同时 PDETEN 无效，进入步骤 3 。

  3. 发送 ADC 采样命令。

    根据滤波配置，连续向 ADC 发出多个采样命令，采样优先级 PRI = 1，收到对应数量的采样数据后，进入步骤 4。

  4. 采样数据滤波。

    按照前面描述的方式，对采样数据进行滤波，如果滤波完成则进入步骤 5，否则置位 FLG（数据超限标志），并进入步骤 6。

  5. 完成采样。

    数据写入 FIFO。

  6. 等待软件干预。

    进入 Error 状态，直到（SCI_FLG & DOUR_FLG）= 0，重新进行下一次采样循环。