寄存器描述

31:17

-

-

-

16

R/W

0

Press Detect Bypass，按压检测屏蔽功能

仅在自动模式（RTP_MODE > 0）下有效。

15:13

-

-

-

12

RO

1

RTP Press Detect Status，RTP 按压检测状态

11:10

-

-

-

9

R/W

0

RTP Press Detect Pull-up Resistor Select，RTP 按压检测上拉电阻选择

8

R/W

0

RTP Press Detection Enable，RTP 按压检测使能

7:4

R/W

0x0

3:1

-

-

-

0

R/W

0

RTP Module Enable，RTP 模块使能

• 0: RTP 被禁止，停止工作
• 1: RTP 被使能。

31:22

-

-

-

21

R/W1C

0

RTP Sample Cycle Incomplete Flag，采样循环不完整标志

仅在自动模式 (RTP_MODE>0) 下有效。

数据超限与抬起都会导致不完整标志起来。

20

R/W1C

0

RTP Data Over Uncertain Range Flag，数据超限（超出范围）标志

19

RO

0

RTP FIFO Error Flag，RTP FIFO 异常标志

具体异常状态见 FIFO 管理寄存器（0x020 RTP_FCR）定义。FIFO_FLG 标志位不能被直接清除，可以通过清除 FIFO 管理寄存器0x020 RTP_FCR中的异常状态间接清除本标志。

18

R/W1C

0

RTP FIFO Data Ready Flag，RTP FIFO 数据有效标志

17

R/W1C

0

RTP Rise Detect Flag，RTP 抬起检测标志

表示 RTP 控制器检测到了从按压到抬起的一个变化过程。

16

R/W1C

0

RTP Press Detect Flag，RTP 按压检测标志

15:6

-

-

-

5

R/W

0

RTP Sample Cycle Incomplete Interrupt Enable，采样循环不完整中断使能

4

R/W

0

3

R/W

0

FIFO 异常状态参考 FIFO 控制寄存器（0x020 RTP_FCR）定义。

2

R/W

0

数据有效的阈值参考 FIFO 控制寄存器（0x020 RTP_FCR）中的配置。

1

R/W

0

0

R/W

0

31:28

R/W

0x2

First Level Rise Detect Debounce，一级抬起去抖配置

抬起事件去抖时间计数，计数单位为 TPCLK，去抖时间范围为 0~（2⁴-1）*TPCLK。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0xF，按压与抬起去抖参数需设置一样

27:24

R/W

0x3

Second Level Rise Detect Debounce，二级抬起去抖配置

抬起事件去抖时间计数，计数单位为 TRiseDivClk，去抖时间范围为 0~（2^4-1）*TRiseDivClk。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0xF，按压与抬起去抖参数需设置一样

23:16

R/W

0x01

Second Level Rise Detect Debounce Div Clk，二级抬起去抖分频计数

抬起事件去抖时间计数 RiseDivClk，计数单位为 TPCLK，分频时间范围为 0~（2⁸-1）*256*TPCLK。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0x0F,按压与抬起去抖参数需设置一样。

15:12

R/W

0x2

First Level Press Detect Debounce，一级按压去抖配置

按压事件去抖时间计数，计数单位为 TPCLK，去抖时间范围为 0~（2⁴-1）*TPCLK。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0xF，按压与抬起去抖参数需设置一样

11:7

R/W

0x3

Second Level Press Detect Debounce，二级按压去抖配置

按压事件去抖时间计数，计数单位为 TPressDivClk，去抖时间范围为 0~（2⁴-1）*TPressDivClk。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0xF，按压与抬起去抖参数需设置一样

7:0

R/W

0x01

Second Level Press Detect Debounce Div Clk，二级按压去抖分频计数

按压事件去抖时间计数 PressDivClk，计数单位为 TPCLK，分频时间范围为 0~（2⁸-1）*256*TPCLK。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0x0F,按压与抬起去抖参数需设置一样。

31:16

R/W

Press Dectect Idle State Delay ，按压检测空闲状态延时，定义了 RTP 在 IDLE 状态与 PDET_EN==1 条件下，延长一定时间进行按压检测，仅在自动模式（RTP_MODE > 0）下有效。

本字段表示按压检测空闲状态延时为 （PDET_ISD+1）*TPCLK，推荐值 0xFFFF。

使用限制：如果已使用二级去抖功能，则需要满足 PDET_ISD ≥(DET_DEB+1)*DET_DEBDC*256

15:0

R/W

0x00FF

Press Dectect Drive-to-Detect Delay ，按压检测驱动到检测延时

本字段定义了 RTP 自动采样过程中，RTP 由驱动状态变为检测状态时，延时一段时间之后才开始按压检测，仅在自动模式（RTP_MODE > 0）下有效。

在自动采样模式下，两点采样之间会对按压检测信号进行判断。为了更加高效，这个判断点未经过去抖（不受 PDEB 寄存器控制），需要在驱动到检测之间增加一个 Delay 控制，以适应 XN 的不同的外部负载。

按压检测驱动到检测的延时为 （PDET_DRV2DET+1）*TPCLK，有效值为 1~65536 个 PCLK 周期。例如，默认值为 0x0F 表示这个延时为 16 个 PCLK 周期。

31:28

RO

0xC

X+ ADC Channel Number，X+对应的 ADC 通道号，显示系统分配给 X+信号的 ADC 通道号。

硬件会根据此 ADC 通道号匹配 ADC 并获取返回的数据，软件驱动不需要使用，本字段仅作 Debug 用。

27:24

RO

0xE

Y+ ADC Channel Number， Y+对应的 ADC 通道号，显示系统分配给 Y+信号的 ADC 通道号

硬件会根据此 ADC 通道号匹配 ADC 并获取返回的数据，软件驱动不需要使用，本字段仅作 Debug 用。

23:20

RO

0xD

X- ADC Channel Number，X-对应的 ADC 通道号，显示系统分配给 X- 信号的 ADC 通道号

硬件会根据此 ADC 通道号匹配 ADC 并获取返回的数据，软件驱动不需要使用，本字段仅作 Debug 用。

19:16

RO

0xF

Y- ADC Channel Number，Y-对应的 ADC 通道号，显示系统分配给 Y- 信号的 ADC 通道号

硬件会根据此 ADC 通道号匹配 ADC 并获取返回的数据，软件驱动不需要使用，本字段仅作 Debug 用。

15:8

R/W

0x08

本次采样的 ADC 通道的捕获时间长度。

计数值单位为 CLK 的周期数，T（ADCACQ） =（ADC_ACQ+1）*16*T（ADC_CLK）。假设 ADC_CLK=24MHz， ADC_ACQ=0x2F， T(ADCACQ) = (47+1)*16*41.67ns = 2*16us=32us。

7:1

-

-

-

0

R/W

1

31:24

-

-

-

23:22

R/W

0x0

Vref- Select，Vref-选通控制，定义了 ADC 参考电压负端（Vref-）的选通控制。仅在手动模式（RTP_MODE == 0）下有效。

21:20

R/W

0x0

19:16

R/W

0x0

RTP X/Y Drive，RTP X/Y 信号驱动控制

定义了 RTP X+/X-/Y+/Y-信号的驱动控制，高电平有效。仅在手动模式（RTP_MODE == 0）下有效。

15:11

-

-

-

10:8

R/W

0x0

Sample Count per Trigger，每次触发的采样次数

仅在手动模式（RTP_MODE = 0）下有效。

本字段定义了每次采样触发之后，连续采样的次数，次数为 SCPT+1，SCPT 的有效值为 0x0~0x7，对应有效的连续采样次数是 1~8。每次触发之后采样得到的数据，都存储在 FIFO 中。

7:6

-

-

-

5:4

R/W

0

3:1

-

-

-

0

R/WAC

0

Sample Trigger，手动采样触发，仅在手动模式（RTP_MODE = 0）下有效。

31

-

-

-

30:28

R/W

0x0

Z Data Relative Uncertainty Range，Z 采样数据相对不确定范围，仅在自动模式((RTP_MODE > 0) 下有效。

27

-

-

-

26:24

R/W

0x0

Z Data Absolute Uncertainty Range，Z 采样数据绝对不确定范围，仅在自动模式(RTP_MODE > 0) 下有效。

23

-

-

-

22:20

R/W

0x0

X/Y Data Relative Uncertainty Range，X/Y 采样数据相对不确定范围，仅在自动模式 (RTP_MODE > 0) 下有效

19

-

-

-

18:16

R/W

0x0

X/Y Data Absolute Uncertainty Range，X/Y 采样数据绝对不确定范围，仅在自动模式 (RTP_MODE > 0) 下有效。

15:2

-

-

-

1:0

R/W

0x2

本字段也规定了自动模式下每次的连续采样数。

31:28

-

-

-

27:12

R/W

0x024A

Periodic Sample Interval，周期性采样间隔，仅在自动模式（RTP_MODE > 0）下有效。

自动模式周期性采样的采样间隔，采样间隔为 PSI*4096*TPCLK。举例，假设 PCLK=24MHz， PSI = 0x24A = 586。采样周期 T（PSI） = 586*4096/24000000 = 0.1s = 100ms。

本字段为 0 表示连续采样，两次采样循环之间没有 Delay。

使用限制：如果已使用二级去抖功能，则需要满足 PSI*16≥(DET_DEB+1)*DET_DEBDC

11:3

-

-

-

2

R

0x0

1

R/W

0

周期性循环采样使能信号，由软件置位清零。周期性采样流程参考前文描述。软件清 0：完成本周期循环采样之后才停止采样。

0

R/WAC

0

单循环完成之后，本字段就会由硬件自动清零。单循环采样的定义是指一个完整自动采样流程，流程涵盖多个采样模式，具体参考 MODE 定义rtp-register-d13x.html#concept_t5v_zl3_pzb__table_ezb_2dc_bzb。

单循环模式下，必须开启屏蔽按压检测信号(PDET_BYP=1)

31:29

-

-

-

28:24

RO

0x0

FIFO Data Count，FIFO 有效数据量

当前 FIFO 有效数据量，0x0~0x10 为合法值。

23:19

-

-

-

18

R/W1C

0

FIFO Underflow Status，FIFO 下溢出状态

当前 FIFO 下溢出状态，高电平有效。由硬件置位，并由软件写 1 清零。

当本字段有效，且 FIFO_UFIE 有效，则会导致 RTP_INTR. FIFO_FLG 置位。

17

R/W1C

0

FIFO Overflow Status，FIFO 上溢出状态

当前 FIFO 上溢出状态，高电平有效。由硬件置位，并由软件写 1 清零。当本字段有效，且 FIFO_OFIE 有效，则会导致 RTP_INTR. FIFO_FLG 置位。

16:13

-

-

-

12:8

R/W

0x0

FIFO Data Ready Threshold，FIFO 数据有效阈值

7:3

-

-

-

2

R/W

0

FIFO Underflow Interrupt Enable，FIFO 下溢出中断使能

FIFO 下溢出中断使能信号，高电平有效。

当本字段有效，且 FIFO_UFS 有效，则会导致 RTP_INTR. FIFO_FLG 置位。

1

R/W

0

FIFO Overflow Interrupt Enable，FIFO 上溢出中断使能

FIFO 上溢出中断使能信号，高电平有效。

当本字段有效，且 FIFO_OFS 有效，则会导致 RTP_INTR. FIFO_FLG 置位。

0

R/WAC

0

FIFO Flush，FIFO 清空操作

由软件置位硬件清零。软件置位启动 FIFO 清空操作，FIFO 清空操作完成后，由硬件清零。

21

RO

0x0

超限标志

20

RO

0x0

抬起标志

17:16

RO

0x0

Channel Number，采样数据的对应通道号

11:0

RO

0x0

Sample Data，采样数据

采样数据返回值。

如果 SCI_FLG=1，所有采样数据滤波有效，但是不足对应采样模式所需的数据量；

如果 DOUR_FLG=1，采样数据前面 DCNT-3 个数据有效，倒数第三个数据为超限数据滤波后的值，倒数第二个数据为超限数据组的最大值，最后一个数据为超限数据组的最小值。

31:16

R/W

0x0F

按压检测预充电延时，计数单位为 TPCLK。当本字段为 0（即 0x0000）时，无延时。本字段定义的延时时间范围为 0~（2^16-1）*TPCLK。

15:0

R/W

0x01

驱动延时，计数单位为 TPCLK。当本字段为 0（即 0x0000）时，无延时。本字段定义的延时时间范围为 0~（2^16-1）*256*TPCLK。举例，当 PCLK =24MHz，TPCLK =41.67ns，256*TPCLK =10.67us，假设本字段的配置 RDET_DEB =0x100 =256 ，抬起去抖时间为 256*10.67us =2.73ms。

31:0

RO

采用 BCD 码显示，V1.0