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功能描述

eFuse 和 SRAM 空间映射

软件读写 eFuse 空间，在 1Kbit 范围内以 32 bits 为单位读写。

为提升可靠性，采用双备份方案，在对 eFuse 进行烧写时，建议先后往 eFuse word[n] 和 word[64+n] 写入相同的值。

开机时，硬件自动读取 eFuse Cell 到 eFuse Buffer 空间，针对两个 word 空间进行按位或操作， 任意一位为 1 则 eFuse Buffer 对应位结果为 1，起到双备份的目的， 如 eFuse Cell 和 eFuse Buffer 空间映射所示。


sid-function

图 1. eFuse Cell 和 eFuse Buffer 空间映射

512bit 空间映射定义

地址

用途

位数

禁止位

可禁读

归属

备注

0~3

DIS

32

0

-

用户自定义

15:00 eFuse 读禁止配置 31:16 eFuse 写禁止配置每位对应 1 个 32bits 空间

4~7

BROM_SECURE

32

1

-

用户自定义

BROM 参数配置区域

8~F

CALI

64

2~3

-

原厂设定

模拟校准使用

10~1F

CHIP ID

128

4~7

-

原厂设定

芯片编号

20~2F

SPI_ENC KEY

128

8~11

Y

用户自定义

安全，连接到 SPI_ENC，对称密钥

SPI_ENC NONCE 固定为全 0

30~3F

Reserved

128

12~15

-

用户自定义

OEM 可自定义使用

CALI 区域定义

表 1. 偏移地址: 0x08

比特位

名称

描述

备注
31:24 USB0_RES_VAL USB0 电阻校准值 BROM 读取该值配置到0x048 USB0_REXTRES_CAL_VAL
23:0 - - -
表 2. 偏移地址: 0x0C

比特位

名称

描述

备注

31:24

 THS_ENV_TEMP THS 环境温度

-

23:16

 AVCC_BG_CTRL AVCC BG 校准值

配置到0x020 LDO25_CFGBG_CTRL

15:12

 - -

-

11:0

 THS0_ADC_VAL THS ADC0 采样值

-

规格锁定区域定义

偏移地址: 0x04

比特位

名称

描述

31

 DIS_MIPI 1: 禁用 MIPI_DSI 模块

30

 DIS_CANFD 1: 禁用 CANFD 功能，只能使用 CAN 功能

29

 DIS_PWMCS 1: 禁用 PWMCS 模块

28

 DIS_JTAG 1: 禁用 JTAG 连接

27:0

 BROM_SECURE 见 启动 BROM 章节定义

JTAG 安全保护

JTAG 使能受 SID 控制，用于对芯片做安全保护。JTAG 安全保护硬件逻辑及使用场景如下：



图 2. JTAG 安全保护硬件逻辑及使用场景
对于关闭 JTAG 的安全芯片方案，用户可以使用安全密钥进行认证， 认证成功后由 BROM 开启 JTAG_UNLOCK 位来打开 JTAG。
注：
JTAG_UNLOCK 位只在 BROM 中进行读写。BROM 退出时，会配置 BROM_PRIVILEGE_LOCK 为 1，此时对 JTAG_UNLOCK 进行写操作无效。。