寄存器描述

Press Detect Bypass，按压检测屏蔽功能

仅在自动模式（RTP_MODE > 0）下有效。

RTP Press Detect Status，RTP 按压检测状态

RTP Press Detect Pull-up Resistor Select，RTP 按压检测上拉电阻选择

RTP Press Detection Enable，RTP 按压检测使能

RTP Module Enable，RTP 模块使能

• 0: RTP 被禁止，停止工作
• 1: RTP 被使能。

RTP Sample Cycle Incomplete Flag，采样循环不完整标志

仅在自动模式 (RTP_MODE>0) 下有效。

数据超限与抬起都会导致不完整标志起来。

RTP Data Over Uncertain Range Flag，数据超限（超出范围）标志

RTP FIFO Error Flag，RTP FIFO 异常标志

具体异常状态见 FIFO 管理寄存器（0x020 RTP_FCR）定义。FIFO_FLG 标志位不能被直接清除，可以通过清除 FIFO 管理寄存器0x020 RTP_FCR中的异常状态间接清除本标志。

RTP FIFO Data Ready Flag，RTP FIFO 数据有效标志

RTP Rise Detect Flag，RTP 抬起检测标志

表示 RTP 控制器检测到了从按压到抬起的一个变化过程。

RTP Press Detect Flag，RTP 按压检测标志

RTP Sample Cycle Incomplete Interrupt Enable，采样循环不完整中断使能

FIFO 异常状态参考 FIFO 控制寄存器（0x020 RTP_FCR）定义。

数据有效的阈值参考 FIFO 控制寄存器（0x020 RTP_FCR）中的配置。

First Level Rise Detect Debounce，一级抬起去抖配置

抬起事件去抖时间计数，计数单位为 TPCLK，去抖时间范围为 0~（2⁴-1）*TPCLK。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0xF，按压与抬起去抖参数需设置一样

Second Level Rise Detect Debounce，二级抬起去抖配置

抬起事件去抖时间计数，计数单位为 TRiseDivClk，去抖时间范围为 0~（2^4-1）*TRiseDivClk。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0xF，按压与抬起去抖参数需设置一样

Second Level Rise Detect Debounce Div Clk，二级抬起去抖分频计数

抬起事件去抖时间计数 RiseDivClk，计数单位为 TPCLK，分频时间范围为 0~（2⁸-1）*256*TPCLK。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0x0F,按压与抬起去抖参数需设置一样。

First Level Press Detect Debounce，一级按压去抖配置

按压事件去抖时间计数，计数单位为 TPCLK，去抖时间范围为 0~（2⁴-1）*TPCLK。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0xF，按压与抬起去抖参数需设置一样

Second Level Press Detect Debounce，二级按压去抖配置

按压事件去抖时间计数，计数单位为 TPressDivClk，去抖时间范围为 0~（2⁴-1）*TPressDivClk。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0xF，按压与抬起去抖参数需设置一样

Second Level Press Detect Debounce Div Clk，二级按压去抖分频计数

按压事件去抖时间计数 PressDivClk，计数单位为 TPCLK，分频时间范围为 0~（2⁸-1）*256*TPCLK。

当本字段为 0（即 0x0000）时，抬起去抖功能无效。

推荐值 0x0F,按压与抬起去抖参数需设置一样。

Press Dectect Idle State Delay ，按压检测空闲状态延时，定义了 RTP 在 IDLE 状态与 PDET_EN==1 条件下，延长一定时间进行按压检测，仅在自动模式（RTP_MODE > 0）下有效。

本字段表示按压检测空闲状态延时为 （PDET_ISD+1）*TPCLK，推荐值 0xFFFF。

使用限制：如果已使用二级去抖功能，则需要满足 PDET_ISD ≥(DET_DEB+1)*DET_DEBDC*256

Press Dectect Drive-to-Detect Delay ，按压检测驱动到检测延时

本字段定义了 RTP 自动采样过程中，RTP 由驱动状态变为检测状态时，延时一段时间之后才开始按压检测，仅在自动模式（RTP_MODE > 0）下有效。

在自动采样模式下，两点采样之间会对按压检测信号进行判断。为了更加高效，这个判断点未经过去抖（不受 PDEB 寄存器控制），需要在驱动到检测之间增加一个 Delay 控制，以适应 XN 的不同的外部负载。

按压检测驱动到检测的延时为 （PDET_DRV2DET+1）*TPCLK，有效值为 1~65536 个 PCLK 周期。例如，默认值为 0x0F 表示这个延时为 16 个 PCLK 周期。

X+ ADC Channel Number，X+对应的 ADC 通道号，显示系统分配给 X+信号的 ADC 通道号。

硬件会根据此 ADC 通道号匹配 ADC 并获取返回的数据，软件驱动不需要使用，本字段仅作 Debug 用。

Y+ ADC Channel Number， Y+对应的 ADC 通道号，显示系统分配给 Y+信号的 ADC 通道号

硬件会根据此 ADC 通道号匹配 ADC 并获取返回的数据，软件驱动不需要使用，本字段仅作 Debug 用。

X- ADC Channel Number，X-对应的 ADC 通道号，显示系统分配给 X- 信号的 ADC 通道号

硬件会根据此 ADC 通道号匹配 ADC 并获取返回的数据，软件驱动不需要使用，本字段仅作 Debug 用。

Y- ADC Channel Number，Y-对应的 ADC 通道号，显示系统分配给 Y- 信号的 ADC 通道号

硬件会根据此 ADC 通道号匹配 ADC 并获取返回的数据，软件驱动不需要使用，本字段仅作 Debug 用。

本次采样的 ADC 通道的捕获时间长度。

计数值单位为 CLK 的周期数，T（ADCACQ） =（ADC_ACQ+1）*16*T（ADC_CLK）。假设 ADC_CLK=24MHz， ADC_ACQ=0x2F， T(ADCACQ) = (47+1)*16*41.67ns = 2*16us=32us。

Vref- Select，Vref-选通控制，定义了 ADC 参考电压负端（Vref-）的选通控制。仅在手动模式（RTP_MODE == 0）下有效。

RTP X/Y Drive，RTP X/Y 信号驱动控制

定义了 RTP X+/X-/Y+/Y-信号的驱动控制，高电平有效。仅在手动模式（RTP_MODE == 0）下有效。

Sample Count per Trigger，每次触发的采样次数

仅在手动模式（RTP_MODE = 0）下有效。

本字段定义了每次采样触发之后，连续采样的次数，次数为 SCPT+1，SCPT 的有效值为 0x0~0x7，对应有效的连续采样次数是 1~8。每次触发之后采样得到的数据，都存储在 FIFO 中。

Sample Trigger，手动采样触发，仅在手动模式（RTP_MODE = 0）下有效。

Z Data Relative Uncertainty Range，Z 采样数据相对不确定范围，仅在自动模式((RTP_MODE > 0) 下有效。

Z Data Absolute Uncertainty Range，Z 采样数据绝对不确定范围，仅在自动模式(RTP_MODE > 0) 下有效。

X/Y Data Relative Uncertainty Range，X/Y 采样数据相对不确定范围，仅在自动模式 (RTP_MODE > 0) 下有效

X/Y Data Absolute Uncertainty Range，X/Y 采样数据绝对不确定范围，仅在自动模式 (RTP_MODE > 0) 下有效。

本字段也规定了自动模式下每次的连续采样数。

Periodic Sample Interval，周期性采样间隔，仅在自动模式（RTP_MODE > 0）下有效。

自动模式周期性采样的采样间隔，采样间隔为 PSI*4096*TPCLK。举例，假设 PCLK=24MHz， PSI = 0x24A = 586。采样周期 T（PSI） = 586*4096/24000000 = 0.1s = 100ms。

本字段为 0 表示连续采样，两次采样循环之间没有 Delay。

使用限制：如果已使用二级去抖功能，则需要满足 PSI*16≥(DET_DEB+1)*DET_DEBDC

周期性循环采样使能信号，由软件置位清零。周期性采样流程参考前文描述。软件清 0：完成本周期循环采样之后才停止采样。

单循环完成之后，本字段就会由硬件自动清零。单循环采样的定义是指一个完整自动采样流程，流程涵盖多个采样模式，具体参考 MODE 定义rtp-register-d21x.html#concept_t5v_zl3_pzb__table_ezb_2dc_bzb。

单循环模式下，必须开启屏蔽按压检测信号(PDET_BYP=1)

FIFO Data Count，FIFO 有效数据量

当前 FIFO 有效数据量，0x0~0x10 为合法值。

FIFO Underflow Status，FIFO 下溢出状态

当前 FIFO 下溢出状态，高电平有效。由硬件置位，并由软件写 1 清零。

当本字段有效，且 FIFO_UFIE 有效，则会导致 RTP_INTR. FIFO_FLG 置位。

FIFO Overflow Status，FIFO 上溢出状态

当前 FIFO 上溢出状态，高电平有效。由硬件置位，并由软件写 1 清零。当本字段有效，且 FIFO_OFIE 有效，则会导致 RTP_INTR. FIFO_FLG 置位。

FIFO Data Ready Threshold，FIFO 数据有效阈值

FIFO Underflow Interrupt Enable，FIFO 下溢出中断使能

FIFO 下溢出中断使能信号，高电平有效。

当本字段有效，且 FIFO_UFS 有效，则会导致 RTP_INTR. FIFO_FLG 置位。

FIFO Overflow Interrupt Enable，FIFO 上溢出中断使能

FIFO 上溢出中断使能信号，高电平有效。

当本字段有效，且 FIFO_OFS 有效，则会导致 RTP_INTR. FIFO_FLG 置位。

FIFO Flush，FIFO 清空操作

由软件置位硬件清零。软件置位启动 FIFO 清空操作，FIFO 清空操作完成后，由硬件清零。

Channel Number，采样数据的对应通道号

Sample Data，采样数据

采样数据返回值。

如果 SCI_FLG=1，所有采样数据滤波有效，但是不足对应采样模式所需的数据量；

如果 DOUR_FLG=1，采样数据前面 DCNT-3 个数据有效，倒数第三个数据为超限数据滤波后的值，倒数第二个数据为超限数据组的最大值，最后一个数据为超限数据组的最小值。

按压检测预充电延时，计数单位为 TPCLK。当本字段为 0（即 0x0000）时，无延时。本字段定义的延时时间范围为 0~（2^16-1）*TPCLK。

驱动延时，计数单位为 TPCLK。当本字段为 0（即 0x0000）时，无延时。本字段定义的延时时间范围为 0~（2^16-1）*256*TPCLK。举例，当 PCLK =24MHz，TPCLK =41.67ns，256*TPCLK =10.67us，假设本字段的配置 RDET_DEB =0x100 =256 ，抬起去抖时间为 256*10.67us =2.73ms。

采用 BCD 码显示，V1.0