JTAG 解锁

JTAG 关闭和打开

芯片内部的 JTAG 调试模块与外部调试器的通信，由以下主要 JTAG 信号连接实现。

JTAG 信号包括：

1. TMS

2. TRST

3. TDI

4. TDO

   • TDO 关闭时，可以关闭外部调试器的 JTAG 调试功能。本芯片通过烧录 eFuse 的安全配置区域 JTAG_DIS 位进行关闭 TDO 信号。

     

   • 如需重新打开 JTAG，可通过另外一个来自寄存器的设置信号来重新使能 TDO 信号。具体如重新打开 TDO 信号 所示。

     

     当设置 JTAG_UNLOCK 为 1 时，即保证 TDO 有效，此时 eFuse 中 JTAG DIS 的值不会影响 TDO。

开关的安全性

设置 eFuse JTAG DIS 为 1 后，JTAG 立刻关闭。此时 eFuse 比特无法被重新设置为 0，JTAG_DIS 信号一直生效，即每次重新上电，JTAG 总是默认关闭。

如需重新打开 JTAG，需要设置 JTAG_UNLOCK 信号控制。JTAG_UNLOCK 信号由 SID 模块的 JTAG_UNLOCK 寄存器比特位控制。因此重新打开 JTAG 的安全性，取决于 JTAG_UNLOCK 比特位的安全性。

BROM_PRIV_LOCK 设置为 1 时，无法清零，只有执行系统复位才能清零。 系统复位时，会运行 BROM。在 BROM 跳出之前，系统会主动设置 BROM_PRIV_LOCK=1，来保证只有 BROM 程序可以设置 BROM_PRIV_LOCK 和 JTAG_UNLOCK 位。在升级模式下，BROM 通过 USB 命令， 对外部的解锁 JTAG 命令进行安全性校验。如校验通过，则设置 JTAG_UNLOCK 对 JTAG 进行解锁。

使能安全启动，BROM 会采取以下行为，保证 BROM 阶段其他程序无法打开 JTAG：

1. 不能通过 USB READ/ WRITE 命令读写寄存器。

2. 所有 BROM 执行的程序，都需要经过安全校验，包括 PBP 程序。如果使能了安全启动，PBP 必须加密。

3. BROM 在跳转到任何其他程序之前，必须先设置 BROM_PRIV_LOCK 特权位。

解锁的安全验证

在 USB 升级模式下，BROM 通过 USB 命令执行 JTAG 解锁。JTAG 解锁的具体流程如下：

1. BROM 通过 USB 命令读取芯片中包含 CHIP ID 等信息的 CHIP DATA，并将其保存为二进制文件。

2. 主机端使用 RSA 私钥，对读取的 CHIP DATA 二进制文件进行签名，并生成签名后的 JTAG 解锁文件。文件格式如图所示。

   

3. 通过 USB JTAG_UNLOCK 命令，发送 JTAG 解锁文件给 BROM。

4. BROM 验证通过后，执行 JTAG 解锁。